| ■ ID | 662 |
| ■ 種類 | 学会発表 |
| ■ タイトル | 統計干渉法による変位計測システムのレンジ拡大と植物生長測定への応用 |
| ■ 著者 | 小林幸一
埼玉大学大学院、（株）東洋精機製作所 門野博史 埼玉県環境科学国際センター 志村和樹 埼玉大学大学院 高原正博 （株）東洋精機製作所 |
| ■ 出版元 | (社)応用物理学会 |
| ■ 出版年 | 2009 |
| ■ 誌名・巻・号・年 | 第57回応用物理学関係連合講演会、平成21年4月1日 |
| ■ 抄録・要旨 | 統計干渉システムのレンジ拡大手法を提案し、実験によりその有効性を検証した。まず、位相変調器を用いて２本のレーザ間に適切な位相変化を導入し、基準となる干渉画像をフレームメモリ上に取り込む。これを画像Step1およびStep3とする。次に、位相変調量を0とし、物体変位による位相変動に対応する干渉画像をフレームメモリ上に随時記録する。この干渉画像をStep2とする。物体変位は、これら３つの干渉画像からリアルタイムで求められる。Step2の位相がStep1またはStep3に接近すると基準画像をStep1'、Step3'として更新する。更新した３つの干渉画像から新たに変位量を求め、更新前の変位量に加算する。この処理を繰り返すことにより、ナノオーダの高精度を保ち、かつ物体変位が2π以上であっても計測が可能となった。 |
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